HORIBA обявява нова мултимодална система за характеризиране на входно ниво за истински едновременни колокализирани измервания

HORIBA обявява нова мултимодална система за характеризиране на входно ниво за истински едновременни колокализирани измервания

PISCATAWAY, NJ – 4 март 2025 г. – HORIBA, глобален лидер в технологиите за анализ и измерване, с гордост обявява пускането на SignatureSPM™, нова, мултимодална система за характеризиране, базирана на автоматизирана платформа за атомно-силова микроскопия (AFM) и интегрирана с Raman/Photoluminescence спектрометър. Тази иновативна система позволява едновременни, колокализирани измервания и предоставя безпрецедентна представа за физичните и химичните свойства на материалите.

SignatureSPM е микроскоп, базиран на мултимодална платформа за характеризиране, която интегрира автоматизиран атомно-силов микроскоп (AFM) с Raman/фотолуминесцентен спектрометър, което позволява истински колокализирани измервания на физични и химични свойства.

SignatureSPM осигурява цялостен анализ на топографски, механични, електрически, магнитни, оптични и химически данни в едно измерване в реално време. Това интегрирано решение изисква по-малко обработка на проби и позволява по-бързо събиране на данни, рационализиране на работния процес и предоставяне на резултати за по-малко време.

SignatureSPM съчетава AFM с Raman и фотолуминесцентна спектроскопия за подобряване на химическата идентификация. Той е лесен за използване и има минимална крива на обучение, което позволява на потребителите да започнат да правят измервания за по-малко от пет минути. Неговата стабилност, скорост и лекота на използване го правят идеален за нанотехнологични изследвания и характеризиране на материали.

SignatureSPM се основава на доказаната мощност на софтуера SmartSPM, който съчетава AFM скенер, NIR лазер с обратна връзка, пълна автоматизация на подравняването на AFM сондата, сближаване на върха и оптимизация на AFM обратна връзка, включително динамично регулиране на скоростта на сканиране без изкривяване на изображението.

AFM на SignatureSPM може да извършва големи сканирания и молекулярна разделителна способност, с акцент върху стабилността чрез бързо време за реакция, нисък шум, нисък дрейф и метрологична проследимост. Алгоритмите за управление, поддържани от цифровия контролер, позволяват безпрецедентни скорости на сканиране и изображения с висока разделителна способност, дори при онлайн промени на скоростта.

Комбинирането на AFM с раманова спектроскопия и фотолуминесценция дава възможност за едновременен анализ на топографията на повърхността на материала, химичния състав и електронните свойства в наноразмер. Това дава възможност за цялостно разбиране на структурата и функционалността на проба с прецизна пространствена корелация между различните типове данни, което е особено полезно в области като наука за материалите, химия, биология, нанотехнологии, изследвания на полупроводници и науки за живота. Най-важното е, че NIR обратната връзка позволява истински измервания на включена/изгасена светлина за светлочувствителни материали.

SignatureSPM има напълно интегрирани множество AFM режими, включително:

• Kelvin-Sondenmikroskopie
• Piezo Response Force Mikroskopie
• Magnetkraftmikroskopie
• Nanolithographie
• Kraftkurvenmessungen

„Дизайнът на SignatureSPM се основава на ангажимента на HORIBA за разработване на иновативни решения за анализ и автоматизация, които отговарят на нуждите на учени и изследователи“, каза Жоао-Лукас Рангел, продуктов мениджър AFM и AFM-Raman в HORIBA. „SignatureSPM ще даде възможност за прецизни, мултимодални измервания, което го прави изключително подходящ инструмент за авангардни изследвания.“

За повече информация относно новата система за мултимодална характеристика SignatureSPM посетете HORIBA.com

източници: