HORIBA annoncerer et nyt multimodalt karakteriseringssystem på entry-level til ægte simultane samlokaliserede målinger

HORIBA annoncerer et nyt multimodalt karakteriseringssystem på entry-level til ægte simultane samlokaliserede målinger

PISCATAWAY, NJ – 4. marts 2025 – HORIBA, en global leder inden for analyse- og måleteknologier, annoncerer stolt lanceringen af ​​SignatureSPM™, et nyt, multimodalt karakteriseringssystem baseret på en automatiseret Atomic Force Microscopy (AFM) platform og integreret med et Raman/Photoluminescensspektrometer. Dette innovative system muliggør samtidige, kolokaliserede målinger og giver en hidtil uset indsigt i materialers fysiske og kemiske egenskaber.

SignatureSPM er et mikroskop baseret på en multimodal karakteriseringsplatform, der integrerer et automatiseret atomkraftmikroskop (AFM) med et Raman/fotoluminescensspektrometer, hvilket muliggør ægte kolokaliserede målinger af fysiske og kemiske egenskaber.

SignatureSPM giver omfattende analyse af topografiske, mekaniske, elektriske, magnetiske, optiske og kemiske data i en enkelt realtidsmåling. Denne integrerede løsning kræver mindre prøvehåndtering og muliggør hurtigere samlokaliseret dataindsamling, strømliner arbejdsgangen og leverer resultater på kortere tid.

SignatureSPM kombinerer AFM med Raman og fotoluminescensspektroskopi for at forbedre kemisk identifikation. Den er nem at bruge og har minimal indlæringskurve, så brugerne kan begynde at tage målinger på under fem minutter. Dens stabilitet, hastighed og brugervenlighed gør den ideel til nanoteknologisk forskning og materialekarakterisering.

SignatureSPM er baseret på den dokumenterede kraft af SmartSPM-software, som kombinerer en AFM-scanner, en NIR-feedback-laser, fuld automatisering af AFM-sondejustering, spidstilnærmelse og AFM-feedback-optimering, inklusive dynamisk scanningshastighedsjustering uden billedforvrængning.

SignatureSPM's AFM kan udføre store scanninger og molekylær opløsning, med vægt på stabilitet gennem hurtig responstid, lav støj, lav drift og metrologisk sporbarhed. Kontrolalgoritmer, der understøttes af den digitale controller, muliggør hidtil usete scanningshastigheder og billeddannelse i høj opløsning, selv med onlinehastighedsændringer.

Kombination af AFM med Raman-spektroskopi og fotoluminescens muliggør samtidig analyse af et materiales overfladetopografi, kemiske sammensætning og elektroniske egenskaber på nanoskala. Dette muliggør en omfattende forståelse af strukturen og funktionaliteten af ​​en prøve med præcis rumlig korrelation mellem de forskellige typer data, hvilket er særligt nyttigt inden for områder som materialevidenskab, kemi, biologi, nanoteknologi, halvlederforskning og biovidenskab. Det er afgørende, at NIR-feedback muliggør ægte lys-tænd/lys-sluk-målinger for lysfølsomme materialer.

SignatureSPM har fuldt integreret flere AFM-tilstande, herunder:

• Kelvin-Sondenmikroskopie
• Piezo Response Force Mikroskopie
• Magnetkraftmikroskopie
• Nanolithographie
• Kraftkurvenmessungen

"Designet af SignatureSPM er baseret på HORIBAs forpligtelse til at udvikle innovative analyse- og automationsløsninger, der opfylder behovene hos videnskabsmænd og forskere," sagde Joao-Lucas Rangel, AFM og AFM-Raman produktchef hos HORIBA. "SignaturSPM vil muliggøre præcise, multimodale målinger, hvilket gør det til et yderst relevant værktøj til banebrydende forskning."

For mere information om det nye SignatureSPM Multimodal Characterization System, besøg HORIBA.com

Kilder: