Η HORIBA ανακοινώνει ένα νέο βασικό σύστημα πολυτροπικού χαρακτηρισμού για πραγματικές ταυτόχρονες μετρήσεις

Η HORIBA ανακοινώνει ένα νέο βασικό σύστημα πολυτροπικού χαρακτηρισμού για πραγματικές ταυτόχρονες μετρήσεις

PISCATAWAY, NJ – 4 Μαρτίου 2025 – Η HORIBA, παγκόσμιος ηγέτης στις τεχνολογίες ανάλυσης και μέτρησης, ανακοινώνει με περηφάνια την κυκλοφορία του SignatureSPM™, ενός νέου πολυτροπικού συστήματος χαρακτηρισμού που βασίζεται σε μια πλατφόρμα αυτοματοποιημένης μικροσκοπίας ατομικής δύναμης (AFM) και είναι ενσωματωμένο με φασματοφωταύγεια Raman/Photometer. Αυτό το καινοτόμο σύστημα επιτρέπει ταυτόχρονες, εντοπισμένες μετρήσεις και παρέχει άνευ προηγουμένου εικόνα για τις φυσικές και χημικές ιδιότητες των υλικών.

Το SignatureSPM είναι ένα μικροσκόπιο που βασίζεται σε μια πλατφόρμα πολυτροπικού χαρακτηρισμού που ενσωματώνει ένα αυτοματοποιημένο μικροσκόπιο ατομικής δύναμης (AFM) με ένα φασματόμετρο Raman/φωτοφωταύγειας, επιτρέποντας πραγματικές εντοπισμένες μετρήσεις φυσικών και χημικών ιδιοτήτων.

Το SignatureSPM παρέχει ολοκληρωμένη ανάλυση τοπογραφικών, μηχανικών, ηλεκτρικών, μαγνητικών, οπτικών και χημικών δεδομένων σε μια ενιαία μέτρηση σε πραγματικό χρόνο. Αυτή η ολοκληρωμένη λύση απαιτεί λιγότερο χειρισμό δειγμάτων και επιτρέπει την ταχύτερη συλλογή δεδομένων με εντοπισμό, τον εξορθολογισμό της ροής εργασιών και την παροχή αποτελεσμάτων σε λιγότερο χρόνο.

Το SignatureSPM συνδυάζει AFM με φασματοσκοπία Raman και φωτοφωταύγεια για τη βελτίωση της χημικής ταυτοποίησης. Είναι εύκολο στη χρήση και έχει ελάχιστη καμπύλη εκμάθησης, επιτρέποντας στους χρήστες να αρχίσουν να κάνουν μετρήσεις σε λιγότερο από πέντε λεπτά. Η σταθερότητα, η ταχύτητα και η ευκολία χρήσης το καθιστούν ιδανικό για έρευνα νανοτεχνολογίας και χαρακτηρισμό υλικών.

Το SignatureSPM βασίζεται στην αποδεδειγμένη ισχύ του λογισμικού SmartSPM, το οποίο συνδυάζει έναν σαρωτή AFM, ένα λέιζερ ανάδρασης NIR, πλήρη αυτοματοποίηση της ευθυγράμμισης του αισθητήρα AFM, την προσέγγιση άκρων και τη βελτιστοποίηση ανάδρασης AFM, συμπεριλαμβανομένης της δυναμικής ρύθμισης του ρυθμού σάρωσης χωρίς παραμόρφωση εικόνας.

Το AFM του SignatureSPM μπορεί να εκτελέσει μεγάλες σαρώσεις και μοριακή ανάλυση, με έμφαση στη σταθερότητα μέσω του γρήγορου χρόνου απόκρισης, του χαμηλού θορύβου, της χαμηλής μετατόπισης και της μετρολογικής ιχνηλασιμότητας. Οι αλγόριθμοι ελέγχου που υποστηρίζονται από τον ψηφιακό ελεγκτή επιτρέπουν πρωτοφανείς ταχύτητες σάρωσης και απεικόνιση υψηλής ανάλυσης, ακόμη και με αλλαγές ταχύτητας στο διαδίκτυο.

Ο συνδυασμός AFM με φασματοσκοπία Raman και φωτοφωταύγεια επιτρέπει την ταυτόχρονη ανάλυση της επιφανειακής τοπογραφίας, της χημικής σύνθεσης και των ηλεκτρονικών ιδιοτήτων ενός υλικού σε νανοκλίμακα. Αυτό επιτρέπει μια ολοκληρωμένη κατανόηση της δομής και της λειτουργικότητας ενός δείγματος με ακριβή χωρική συσχέτιση μεταξύ των διαφορετικών τύπων δεδομένων, η οποία είναι ιδιαίτερα χρήσιμη σε τομείς όπως η επιστήμη των υλικών, η χημεία, η βιολογία, η νανοτεχνολογία, η έρευνα ημιαγωγών και οι βιοεπιστήμες. Κυρίως, η ανάδραση NIR επιτρέπει πραγματικές μετρήσεις φωτός-on/light-off για ευαίσθητα στο φως υλικά.

Το SignatureSPM έχει ενσωματώσει πλήρως πολλαπλές λειτουργίες AFM, όπως:

• Kelvin-Sondenmikroskopie
• Piezo Response Force Mikroskopie
• Magnetkraftmikroskopie
• Nanolithographie
• Kraftkurvenmessungen

«Ο σχεδιασμός του SignatureSPM βασίζεται στη δέσμευση της HORIBA για την ανάπτυξη καινοτόμων λύσεων ανάλυσης και αυτοματισμού που ανταποκρίνονται στις ανάγκες των επιστημόνων και των ερευνητών», δήλωσε ο Joao-Lucas Rangel, διευθυντής προϊόντων AFM και AFM-Raman της HORIBA. «Το SignatureSPM θα επιτρέψει ακριβείς, πολυτροπικές μετρήσεις, καθιστώντας το ένα εξαιρετικά σχετικό εργαλείο για έρευνα αιχμής».

Για περισσότερες πληροφορίες σχετικά με το νέο Σύστημα Πολυτροπικού Χαρακτηρισμού SignatureSPM, επισκεφτείτε το HORIBA.com

Πηγές: