HORIBA tillkännager ett nytt multimodalt karakteriseringssystem på ingångsnivå för sanna samtidiga samlokaliserade mätningar

HORIBA tillkännager ett nytt multimodalt karakteriseringssystem på ingångsnivå för sanna samtidiga samlokaliserade mätningar

PISCATAWAY, NJ – 4 mars 2025 – HORIBA, en global ledare inom analys- och mätteknik, tillkännager stolt lanseringen av SignatureSPM™, ett nytt, multimodalt karakteriseringssystem baserat på en automatiserad Atomic Force Microscopy (AFM)-plattform och integrerat med en Raman/Photoluminescensspektrometer. Detta innovativa system möjliggör samtidiga, samlokaliserade mätningar och ger oöverträffad insikt i materials fysikaliska och kemiska egenskaper.

SignatureSPM är ett mikroskop baserat på en multimodal karakteriseringsplattform som integrerar ett automatiserat atomkraftmikroskop (AFM) med en Raman/fotoluminescensspektrometer, vilket möjliggör sanna kolokaliserade mätningar av fysikaliska och kemiska egenskaper.

SignatureSPM tillhandahåller omfattande analys av topografiska, mekaniska, elektriska, magnetiska, optiska och kemiska data i en enda realtidsmätning. Denna integrerade lösning kräver mindre provhantering och möjliggör snabbare samlokaliserad datainsamling, effektiviserar arbetsflödet och ger resultat på kortare tid.

SignatureSPM kombinerar AFM med Raman och fotoluminescensspektroskopi för att förbättra kemisk identifiering. Det är lätt att använda och har minimal inlärningskurva, vilket gör att användare kan börja göra mätningar på under fem minuter. Dess stabilitet, hastighet och användarvänlighet gör den idealisk för nanoteknologisk forskning och materialkaraktärisering.

SignatureSPM är baserad på den beprövade kraften hos SmartSPM-mjukvaran, som kombinerar en AFM-skanner, en NIR-feedbacklaser, full automatisering av AFM-sondjustering, spetsapproximation och AFM-feedbackoptimering, inklusive dynamisk skanningshastighetsjustering utan bildförvrängning.

SignatureSPM:s AFM kan utföra stora skanningar och molekylär upplösning, med betoning på stabilitet genom snabb svarstid, lågt brus, låg drift och metrologisk spårbarhet. Kontrollalgoritmer som stöds av den digitala styrenheten möjliggör oöverträffade skanningshastigheter och högupplöst bildbehandling, även med hastighetsändringar online.

Att kombinera AFM med Raman-spektroskopi och fotoluminescens möjliggör samtidig analys av ett material yttopografi, kemiska sammansättning och elektroniska egenskaper på nanoskala. Detta möjliggör en övergripande förståelse av ett provs struktur och funktionalitet med exakt rumslig korrelation mellan de olika typerna av data, vilket är särskilt användbart inom områden som materialvetenskap, kemi, biologi, nanoteknik, halvledarforskning och biovetenskap. Av avgörande betydelse är att NIR-feedback möjliggör verkliga ljus-på/ljus-av-mätningar för ljuskänsliga material.

SignatureSPM har helt integrerade flera AFM-lägen inklusive:

• Kelvin-Sondenmikroskopie
• Piezo Response Force Mikroskopie
• Magnetkraftmikroskopie
• Nanolithographie
• Kraftkurvenmessungen

"Utformningen av SignatureSPM är baserad på HORIBAs engagemang för att utveckla innovativa analys- och automationslösningar som möter behoven hos forskare och forskare", säger Joao-Lucas Rangel, AFM och AFM-Raman produktchef på HORIBA. "SignaturSPM kommer att möjliggöra exakta, multimodala mätningar, vilket gör det till ett mycket relevant verktyg för spjutspetsforskning."

För mer information om det nya SignatureSPM Multimodal Characterization System, besök HORIBA.com

Källor: