HORIBA 宣布推出一款新的入门级多模态表征系统，用于真正的同步协同测量

HORIBA 宣布推出一款新的入门级多模态表征系统，用于真正的同步协同测量

新泽西州皮斯卡塔韦 – 2025 年 3 月 4 日 – 全球分析和测量技术领导者 HORIBA 自豪地宣布推出 SignatureSPM™，这是一种基于自动化原子力显微镜 (AFM) 平台并与拉曼/光致发光光谱仪集成的新型多模态表征系统。这一创新系统可实现同步、共定位测量，并提供对材料物理和化学特性前所未有的洞察。

SignatureSPM 是一款基于多模态表征平台的显微镜，该平台将自动原子力显微镜 (AFM) 与拉曼/光致发光光谱仪集成在一起，可实现物理和化学特性的真正共定位测量。

SignatureSPM 在一次实时测量中提供对形貌、机械、电学、磁学、光学和化学数据的全面分析。这种集成解决方案需要更少的样品处理，并能够更快地收集数据，简化工作流程并在更短的时间内提供结果。

SignatureSPM 将 AFM 与拉曼光谱和光致发光光谱相结合，以改进化学鉴定。它易于使用，学习曲线极短，用户可以在五分钟内开始测量。其稳定性、速度和易用性使其成为纳米技术研究和材料表征的理想选择。

SignatureSPM 基于经过验证的 SmartSPM 软件功能，该软件结合了 AFM 扫描仪、NIR 反馈激光器、AFM 探针对准的完全自动化、针尖近似和 AFM 反馈优化，包括动态扫描速率调整而不会造成图像失真。

SignatureSPM 的 AFM 可以执行大型扫描和分子分辨率，重点是通过快速响应时间、低噪声、低漂移和计量可追溯性来实现稳定性。数字控制器支持的控制算法可实现前所未有的扫描速度和高分辨率成像，即使在线速度变化也是如此。

将 AFM 与拉曼光谱和光致发光相结合，可以在纳米尺度上同时分析材料的表面形貌、化学成分和电子特性。这样可以全面了解样品的结构和功能，并具有不同类型数据之间的精确空间相关性，这在材料科学、化学、生物学、纳米技术、半导体研究和生命科学等领域特别有用。至关重要的是，NIR 反馈能够对光敏材料进行真正的开/关测量。

SignatureSPM 完全集成了多种 AFM 模式，包括：

• Kelvin-Sondenmikroskopie
• Piezo Response Force Mikroskopie
• Magnetkraftmikroskopie
• Nanolithographie
• Kraftkurvenmessungen

HORIBA AFM 和 AFM-Raman 产品经理 Joao-Lucas Rangel 表示：“SignatureSPM 的设计基于 HORIBA 致力于开发满足科学家和研究人员需求的创新分析和自动化解决方案的承诺。” “SignatureSPM 将实现精确的多模式测量，使其成为尖端研究的高度相关工具。”

有关新型 SignatureSPM 多模态表征系统的更多信息，请访问 HORIBA.com

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