HORIBA kündigt ein neues multimodales Charakterisierungssystem der Einstiegsklasse für echte simultane kolokalisierte Messungen an

HORIBA kündigt ein neues multimodales Charakterisierungssystem der Einstiegsklasse für echte simultane kolokalisierte Messungen an

PISCATAWAY, NJ – 4. März 2025 – HORIBA, ein weltweit führender Anbieter von Analyse- und Messtechnologien, gibt stolz die Einführung von SignatureSPM™ bekannt, einem neuen, multimodalen Charakterisierungssystem, das auf einer automatisierten Atomic Force Microscopy (AFM)-Plattform basiert und in ein Raman/Photolumineszenz-Spektrometer integriert ist. Dieses innovative System ermöglicht gleichzeitige, kolokalisierte Messungen und liefert beispiellose Einblicke in die physikalischen und chemischen Eigenschaften von Materialien.

SignatureSPM ist ein Mikroskop, das auf einer multimodalen Charakterisierungsplattform basiert und ein automatisiertes Rasterkraftmikroskop (AFM) mit einem Raman/Photolumineszenz-Spektrometer integriert, was echte kolokalisierte Messungen physikalischer und chemischer Eigenschaften ermöglicht.

SignatureSPM bietet umfassende Analysen topografischer, mechanischer, elektrischer, magnetischer, optischer und chemischer Daten in einer einzigen Echtzeitmessung. Diese integrierte Lösung erfordert weniger Probenhandhabung und ermöglicht eine schnellere kolokalisierte Datenerfassung, was den Arbeitsablauf rationalisiert und Ergebnisse in kürzerer Zeit liefert.

Das SignatureSPM kombiniert AFM mit Raman- und Photolumineszenzspektroskopie, um die chemische Identifizierung zu verbessern. Es ist einfach zu bedienen und hat einen minimalen Lernaufwand, sodass Benutzer in weniger als fünf Minuten mit Messungen beginnen können. Seine Stabilität, Geschwindigkeit und Benutzerfreundlichkeit machen es ideal für die Nanotechnologieforschung und Materialcharakterisierung.

Das SignatureSPM basiert auf der bewährten Leistung der SmartSPM-Software, die einen AFM-Scanner, einen NIR-Feedback-Laser, eine vollständige Automatisierung der AFM-Sondenausrichtung, Spitzenannäherung und AFM-Feedback-Optimierung, einschließlich der dynamischen Anpassung der Scanrate ohne Bildverzerrung, kombiniert.

Das AFM des SignatureSPM kann große Scans und molekulare Auflösung durchführen, wobei Stabilität durch schnelle Reaktionszeit, geringes Rauschen, geringe Drift und messtechnische Rückverfolgbarkeit im Vordergrund steht. Vom digitalen Controller unterstützte Steuerungsalgorithmen ermöglichen beispiellose Scangeschwindigkeiten und hochauflösende Bildgebung, selbst bei Online-Geschwindigkeitsänderungen.

Die Kombination von AFM mit Raman-Spektroskopie und Photolumineszenz ermöglicht die gleichzeitige Analyse der Oberflächentopographie, der chemischen Zusammensetzung und der elektronischen Eigenschaften eines Materials im Nanomaßstab. Dies ermöglicht ein umfassendes Verständnis der Struktur und Funktionalität einer Probe mit präziser räumlicher Korrelation zwischen den verschiedenen Datentypen, was besonders in Bereichen wie Materialwissenschaften, Chemie, Biologie, Nanotechnologie, Halbleiterforschung und Biowissenschaften nützlich ist. Entscheidend ist, dass das NIR-Feedback echte Licht-Ein-/Licht-Aus-Messungen für lichtempfindliche Materialien ermöglicht.

SignatureSPM hat mehrere AFM-Modi vollständig integriert, darunter:

• Kelvin-Sondenmikroskopie
• Piezo Response Force Mikroskopie
• Magnetkraftmikroskopie
• Nanolithographie
• Kraftkurvenmessungen

„Das Design des SignatureSPM basiert auf dem Engagement von HORIBA, innovative Analyse- und Automatisierungslösungen zu entwickeln, die den Bedürfnissen von Wissenschaftlern und Forschern gerecht werden“, sagte Joao-Lucas Rangel, AFM- und AFM-Raman-Produktmanager bei HORIBA. „Das SignatureSPM wird präzise, ​​multimodale Messungen ermöglichen und es zu einem hochrelevanten Werkzeug für die Spitzenforschung machen.“

Weitere Informationen zum neuen SignatureSPM Multimodal Characterization System finden Sie unter HORIBA.com

Quellen: