HORIBA anuncia un nuevo sistema de caracterización multimodal de nivel básico para mediciones colocadas simultáneamente verdaderas

HORIBA anuncia un nuevo sistema de caracterización multimodal de nivel básico para mediciones colocadas simultáneamente verdaderas

PISCATAWAY, Nueva Jersey – 4 de marzo de 2025 – HORIBA, líder mundial en tecnologías de análisis y medición, anuncia con orgullo el lanzamiento de SignatureSPM™, un nuevo sistema de caracterización multimodal basado en una plataforma automatizada de microscopía de fuerza atómica (AFM) e integrado con un espectrómetro Raman/fotoluminiscencia. Este innovador sistema permite mediciones colocalizadas simultáneas y proporciona información sin precedentes sobre las propiedades físicas y químicas de los materiales.

SignatureSPM es un microscopio basado en una plataforma de caracterización multimodal que integra un microscopio de fuerza atómica (AFM) automatizado con un espectrómetro Raman/fotoluminiscencia, lo que permite mediciones colocalizadas reales de propiedades físicas y químicas.

SignatureSPM proporciona un análisis integral de datos topográficos, mecánicos, eléctricos, magnéticos, ópticos y químicos en una única medición en tiempo real. Esta solución integrada requiere menos manipulación de muestras y permite una recopilación de datos colocada más rápida, lo que agiliza el flujo de trabajo y ofrece resultados en menos tiempo.

El SignatureSPM combina AFM con Raman y espectroscopía de fotoluminiscencia para mejorar la identificación química. Es fácil de usar y tiene una curva de aprendizaje mínima, lo que permite a los usuarios comenzar a tomar mediciones en menos de cinco minutos. Su estabilidad, velocidad y facilidad de uso lo hacen ideal para la investigación en nanotecnología y la caracterización de materiales.

SignatureSPM se basa en el poder comprobado del software SmartSPM, que combina un escáner AFM, un láser de retroalimentación NIR, automatización completa de la alineación de la sonda AFM, aproximación de la punta y optimización de la retroalimentación AFM, incluido el ajuste dinámico de la velocidad de escaneo sin distorsión de la imagen.

El AFM de SignatureSPM puede realizar escaneos de gran tamaño y resolución molecular, con énfasis en la estabilidad a través de un tiempo de respuesta rápido, bajo ruido, baja deriva y trazabilidad metrológica. Los algoritmos de control compatibles con el controlador digital permiten velocidades de escaneo sin precedentes e imágenes de alta resolución, incluso con cambios de velocidad en línea.

La combinación de AFM con espectroscopía Raman y fotoluminiscencia permite el análisis simultáneo de la topografía de la superficie, la composición química y las propiedades electrónicas de un material a nanoescala. Esto permite una comprensión integral de la estructura y funcionalidad de una muestra con una correlación espacial precisa entre los diferentes tipos de datos, lo que es particularmente útil en áreas como ciencia de materiales, química, biología, nanotecnología, investigación de semiconductores y ciencias de la vida. Fundamentalmente, la retroalimentación NIR permite mediciones reales de encendido y apagado de luz para materiales sensibles a la luz.

SignatureSPM ha integrado completamente múltiples modos AFM que incluyen:

• Kelvin-Sondenmikroskopie
• Piezo Response Force Mikroskopie
• Magnetkraftmikroskopie
• Nanolithographie
• Kraftkurvenmessungen

"El diseño de SignatureSPM se basa en el compromiso de HORIBA de desarrollar soluciones innovadoras de análisis y automatización que satisfagan las necesidades de científicos e investigadores", dijo Joao-Lucas Rangel, gerente de productos AFM y AFM-Raman en HORIBA. "El SignatureSPM permitirá mediciones multimodales precisas, lo que lo convierte en una herramienta muy relevante para la investigación de vanguardia".

Para obtener más información sobre el nuevo sistema de caracterización multimodal SignatureSPM, visite HORIBA.com

Fuentes: