A HORIBA új belépő szintű multimodális jellemzési rendszert jelent be a valódi szimultán, helyben végzett mérésekhez

A HORIBA új belépő szintű multimodális jellemzési rendszert jelent be a valódi szimultán, helyben végzett mérésekhez

PISCATAWAY, NJ – 2025. március 4. – A HORIBA, az elemzési és mérési technológiák globális vezető vállalata, büszkén jelenti be a SignatureSPM™ új, automatizált atomerőmikroszkópos (AFM) platformon alapuló multimodális jellemzési rendszer bevezetését, amelyet Raman/fotolumineszcencia spektrométerrel integráltak. Ez az innovatív rendszer lehetővé teszi az egyidejű, kolokalizált méréseket, és példátlan betekintést nyújt az anyagok fizikai és kémiai tulajdonságaiba.

A SignatureSPM egy multimodális jellemzési platformon alapuló mikroszkóp, amely egy automatizált atomerőmikroszkópot (AFM) integrál Raman/fotolumineszcencia spektrométerrel, lehetővé téve a fizikai és kémiai tulajdonságok valódi kolokalizált mérését.

A SignatureSPM átfogó elemzést biztosít a topográfiai, mechanikai, elektromos, mágneses, optikai és kémiai adatokról egyetlen valós idejű mérésben. Ez az integrált megoldás kevesebb mintakezelést igényel, és gyorsabb közös adatgyűjtést tesz lehetővé, egyszerűsíti a munkafolyamatot, és rövidebb idő alatt biztosítja az eredményeket.

A SignatureSPM az AFM-et Raman-nal és a fotolumineszcencia spektroszkópiával kombinálja a kémiai azonosítás javítása érdekében. Könnyen használható és minimális tanulási görbéje van, így a felhasználók kevesebb mint öt perc alatt elkezdhetik a méréseket. Stabilitása, sebessége és könnyű kezelhetősége ideálissá teszi nanotechnológiai kutatásokhoz és anyagok jellemzéséhez.

A SignatureSPM a SmartSPM szoftver bizonyított erején alapul, amely egyesíti az AFM szkennert, a NIR visszacsatoló lézert, az AFM szonda igazításának teljes automatizálását, a csúcs közelítését és az AFM visszacsatolás optimalizálását, beleértve a dinamikus pásztázási sebesség beállítást képtorzítás nélkül.

A SignatureSPM AFM-je nagy szkenneléseket és molekuláris felbontást tud végrehajtani, a gyors válaszidő, az alacsony zaj, az alacsony sodródás és a metrológiai nyomon követhetőség révén a stabilitásra helyezve a hangsúlyt. A digitális vezérlő által támogatott vezérlőalgoritmusok soha nem látott szkennelési sebességet és nagy felbontású képalkotást tesznek lehetővé, még online sebességváltozások esetén is.

Az AFM Raman spektroszkópiával és fotolumineszcenciával való kombinálása lehetővé teszi az anyag felületi topográfiájának, kémiai összetételének és elektronikai tulajdonságainak egyidejű elemzését nanoméretben. Ez lehetővé teszi a minta szerkezetének és funkcióinak átfogó megértését, pontos térbeli korrelációval a különböző típusú adatok között, ami különösen hasznos az olyan területeken, mint az anyagtudomány, a kémia, a biológia, a nanotechnológia, a félvezetőkutatás és az élettudományok. Lényeges, hogy a NIR visszacsatolás lehetővé teszi a fényérzékeny anyagok valódi be-/kikapcsolási mérését.

A SignatureSPM teljesen integrált több AFM módot tartalmaz, beleértve:

• Kelvin-Sondenmikroskopie
• Piezo Response Force Mikroskopie
• Magnetkraftmikroskopie
• Nanolithographie
• Kraftkurvenmessungen

„A SignatureSPM tervezése a HORIBA azon elkötelezettségén alapul, hogy olyan innovatív elemzési és automatizálási megoldásokat fejlesszen ki, amelyek megfelelnek a tudósok és kutatók igényeinek” – mondta Joao-Lucas Rangel, a HORIBA AFM és AFM-Raman termékmenedzsere. „A SignatureSPM precíz, multimodális méréseket tesz lehetővé, így rendkívül releváns eszközzé válik az élvonalbeli kutatásokhoz.”

Az új SignatureSPM Multimodális Jellemző Rendszerrel kapcsolatos további információkért látogasson el a HORIBA.com oldalra

Források: