HORIBA annuncia un nuovo sistema di caratterizzazione multimodale entry-level per misurazioni colocalizzate simultanee

HORIBA annuncia un nuovo sistema di caratterizzazione multimodale entry-level per misurazioni colocalizzate simultanee

PISCATAWAY, NJ – 4 marzo 2025 – HORIBA, leader globale nelle tecnologie di analisi e misurazione, annuncia con orgoglio il lancio di SignatureSPM™, un nuovo sistema di caratterizzazione multimodale basato su una piattaforma automatizzata di microscopia a forza atomica (AFM) e integrata con uno spettrometro Raman/fotoluminescenza. Questo sistema innovativo consente misurazioni simultanee e colocalizzate e fornisce informazioni senza precedenti sulle proprietà fisiche e chimiche dei materiali.

SignatureSPM è un microscopio basato su una piattaforma di caratterizzazione multimodale che integra un microscopio automatizzato a forza atomica (AFM) con uno spettrometro Raman/fotoluminescenza, consentendo misurazioni reali colocalizzate delle proprietà fisiche e chimiche.

SignatureSPM fornisce un'analisi completa di dati topografici, meccanici, elettrici, magnetici, ottici e chimici in un'unica misurazione in tempo reale. Questa soluzione integrata richiede una minore gestione dei campioni e consente una raccolta dati co-localizzata più rapida, ottimizzando il flusso di lavoro e fornendo risultati in meno tempo.

Il SignatureSPM combina l'AFM con la spettroscopia Raman e la fotoluminescenza per migliorare l'identificazione chimica. È facile da usare e ha una curva di apprendimento minima, consentendo agli utenti di iniziare a effettuare misurazioni in meno di cinque minuti. La sua stabilità, velocità e facilità d'uso lo rendono ideale per la ricerca sulle nanotecnologie e la caratterizzazione dei materiali.

SignatureSPM si basa sulla comprovata potenza del software SmartSPM, che combina uno scanner AFM, un laser di feedback NIR, l'automazione completa dell'allineamento della sonda AFM, l'approssimazione della punta e l'ottimizzazione del feedback AFM, inclusa la regolazione dinamica della velocità di scansione senza distorsione dell'immagine.

L'AFM di SignatureSPM può eseguire scansioni di grandi dimensioni e risoluzione molecolare, con particolare attenzione alla stabilità attraverso tempi di risposta rapidi, basso rumore, bassa deriva e tracciabilità metrologica. Gli algoritmi di controllo supportati dal controller digitale consentono velocità di scansione senza precedenti e immagini ad alta risoluzione, anche con variazioni di velocità online.

La combinazione dell'AFM con la spettroscopia Raman e la fotoluminescenza consente l'analisi simultanea della topografia superficiale, della composizione chimica e delle proprietà elettroniche di un materiale su scala nanometrica. Ciò consente una comprensione completa della struttura e della funzionalità di un campione con una precisa correlazione spaziale tra i diversi tipi di dati, il che è particolarmente utile in settori quali la scienza dei materiali, la chimica, la biologia, la nanotecnologia, la ricerca sui semiconduttori e le scienze della vita. Fondamentalmente, il feedback NIR consente misurazioni reali di accensione/spegnimento per materiali sensibili alla luce.

SignatureSPM ha completamente integrato più modalità AFM, tra cui:

• Kelvin-Sondenmikroskopie
• Piezo Response Force Mikroskopie
• Magnetkraftmikroskopie
• Nanolithographie
• Kraftkurvenmessungen

“Il design del SignatureSPM si basa sull’impegno di HORIBA nello sviluppo di soluzioni innovative di analisi e automazione che soddisfino le esigenze di scienziati e ricercatori”, ha affermato Joao-Lucas Rangel, product manager AFM e AFM-Raman presso HORIBA. «Il SignatureSPM consentirà misurazioni precise e multimodali, rendendolo uno strumento estremamente rilevante per la ricerca all’avanguardia».

Per ulteriori informazioni sul nuovo sistema di caratterizzazione multimodale SignatureSPM, visitare HORIBA.com

Fonti: