HORIBA anuncia um novo sistema de caracterização multimodal básico para medições colocalizadas simultâneas reais

HORIBA anuncia um novo sistema de caracterização multimodal básico para medições colocalizadas simultâneas reais

PISCATAWAY, NJ – 4 de março de 2025 – HORIBA, líder global em tecnologias de análise e medição, anuncia com orgulho o lançamento do SignatureSPM™, um novo sistema de caracterização multimodal baseado em uma plataforma automatizada de Microscopia de Força Atômica (AFM) e integrado a um espectrômetro Raman/Fotoluminescência. Este sistema inovador permite medições simultâneas e colocalizadas e fornece informações sem precedentes sobre as propriedades físicas e químicas dos materiais.

SignatureSPM é um microscópio baseado em uma plataforma de caracterização multimodal que integra um microscópio de força atômica automatizado (AFM) com um espectrômetro Raman/fotoluminescência, permitindo medições verdadeiras colocalizadas de propriedades físicas e químicas.

O SignatureSPM fornece análise abrangente de dados topográficos, mecânicos, elétricos, magnéticos, ópticos e químicos em uma única medição em tempo real. Esta solução integrada requer menos manuseio de amostras e permite uma coleta de dados mais rápida, simplificando o fluxo de trabalho e entregando resultados em menos tempo.

O SignatureSPM combina AFM com espectroscopia Raman e fotoluminescência para melhorar a identificação química. É fácil de usar e possui curva de aprendizado mínima, permitindo que os usuários comecem a fazer medições em menos de cinco minutos. Sua estabilidade, velocidade e facilidade de uso o tornam ideal para pesquisa em nanotecnologia e caracterização de materiais.

O SignatureSPM é baseado no poder comprovado do software SmartSPM, que combina um scanner AFM, um laser de feedback NIR, automação completa do alinhamento da sonda AFM, aproximação da ponta e otimização de feedback AFM, incluindo ajuste dinâmico da taxa de varredura sem distorção de imagem.

O AFM do SignatureSPM pode realizar grandes varreduras e resolução molecular, com ênfase na estabilidade por meio de tempo de resposta rápido, baixo ruído, baixo desvio e rastreabilidade metrológica. Os algoritmos de controle suportados pelo controlador digital permitem velocidades de digitalização sem precedentes e imagens de alta resolução, mesmo com alterações de velocidade on-line.

A combinação de AFM com espectroscopia Raman e fotoluminescência permite a análise simultânea da topografia da superfície de um material, composição química e propriedades eletrônicas em nanoescala. Isto permite uma compreensão abrangente da estrutura e funcionalidade de uma amostra com correlação espacial precisa entre os diferentes tipos de dados, o que é particularmente útil em áreas como ciência dos materiais, química, biologia, nanotecnologia, investigação de semicondutores e ciências da vida. Crucialmente, o feedback NIR permite medições reais de luz ligada/desligada para materiais sensíveis à luz.

SignatureSPM integrou totalmente vários modos AFM, incluindo:

• Kelvin-Sondenmikroskopie
• Piezo Response Force Mikroskopie
• Magnetkraftmikroskopie
• Nanolithographie
• Kraftkurvenmessungen

“O design do SignatureSPM é baseado no compromisso da HORIBA em desenvolver soluções inovadoras de análise e automação que atendam às necessidades de cientistas e pesquisadores”, disse João-Lucas Rangel, gerente de produto AFM e AFM-Raman da HORIBA. “O SignatureSPM permitirá medições multimodais precisas, tornando-o uma ferramenta altamente relevante para pesquisas de ponta.”

Para obter mais informações sobre o novo sistema de caracterização multimodal SignatureSPM, visite HORIBA.com

Fontes: